Простий
пошук
Розширений
пошук
Покажчики
Професійний
пошук
Рубрикатор
НБУВ
Розподілений
пошук

Бази даних

Наукова періодика України - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"
Вид пошуку
Повнотекстовий пошук
 Знайдено в інших БД:Реферативна база даних (1)
Список видань за алфавітом назв:
A  B  C  D  E  F  G  H  I  J  L  M  N  O  P  R  S  T  U  V  W  
А  Б  В  Г  Ґ  Д  Е  Є  Ж  З  И  І  К  Л  М  Н  О  П  Р  С  Т  У  Ф  Х  Ц  Ч  Ш  Щ  Э  Ю  Я  

Авторський покажчик    Покажчик назв публікацій


Пошуковий запит: (<.>A=Zavada M$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1
1.

Zavada M. 
Self-organization in irradiated semiconductor crystals caused by thermal annealing [Електронний ресурс] / M. Zavada, O. Konoreva, P. Lytovchenko, V. Opilat, M. Pinkovska, O. Radkevych, V. Tartachnyk // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2018. - Vol. 21, № 2. - С. 130-133. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2018_21_2_6
Annealing of complex semiconductors GaP and CdP2, irradiated at room temperature by high fluences of electrons within 1 - 30 MeV energy interval and 80 MeV <$Ealpha>-particles, was carried out, and main electrical parameters (conductivity <$Esigma>, carrier concentration n and mobility <$Emu>) as well as the positron lifetime <$Etau> were studied and analyzed. When the point defect concentration excesses some critical value, defects of new kind are formed: oscillation peaks in the isochronous annealing curve appear, and defects with a high cross-section of defect scattering and capture are created. High temperature annealing of the irradiated sample with increased vacancy concentration causes appearance of the vacancy voids with a lower electron density.
Попередній перегляд:   Завантажити - 214.107 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
 
Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів
Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського